高速応答微粒子粒度分布計
DMS500 MkII
DMS500は全領域の粒度分布をリアルタイムで計測する新しいタイプの測定器として、2002年に世界で初めて発売しました。とりわけエンジンから排出される粒子の粒径や粒子数、およびマス換算粒子をリアルタイムで出力するよう、荷電粒子の電気的移動度を高感度なエレクトロメータで測定します。
資料ダウンロードあり
| 応答性vs出力周期 | PDF(249.4 KB) |
|---|---|
| 喫煙プロファイルシミュレータのカタログ | PDF(348.8 KB) |
| ガソリン直噴エンジン車のNEDCモードによるカラーコンタープロット | PDF(441.4 KB) |
| DSAカタログ | PDF(48.9 KB) |
| エンジン計測用カタログ | PDF(4.4 MB) |
| 一般エアロゾル計測用カタログ | PDF(693.7 KB) |
| DMS500 MkII の優位性 | PDF(192.8 KB) |
特長
仕様
| 測定粒径範囲 | 5nm~1μm | |
| 分級方式 | 電気的移動度の差(モビリティー差) | |
| ダイリューションファクタ | ~1 : 3000 | |
| 許容最大排ガス温度 | 150℃ | |
| サンプル流量 | 8 l/min at 0℃,100kPa | |
| カラム圧力 | 250 mbarA | |
| アナログ出力 | 4系統,0-10v 47Ω | |
| アナログ入力 | 4系統,±10v | |
| 暖機時間 | 電源投入後30分 | |
| 粒度分布要素数 | 16 class/decade(トータル38クラス) | |
| 応答性 | T10-90%= 200ms T10-90%= 300ms(5mの加熱ライン付き) |
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| データ出力レート | 10/sec ~ 1/min | |
| 操作 | PCユーザーインターフェース | |
| 加熱サンプルライン | 標準長5m,最大加熱温度120℃ | |
| キャリブレーション ・核生成モード粒子 ・凝集モード粒子 |
NISTトレーサブルのPSL球と,DMAで選別された NaCl/H2SO4を標準エレクトロメータと比較 DMAで煤の粒径を選別し,標準エレクトロメータと比較 |
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| 電源 | AC100V, 1.5kVA,電源ケーブル長5m | |
| 装置寸法 | 380W, 520mmD, 980H + バキュームポンプ | |
| ユーティリティ関係 ・ダイリューションエアー ・エキゾースト配管接続 ・捨てガス配管 |
オイルフリーエアー,露点3℃以下,供給圧力4bar 6mmまたは1/4インチSwagelok 内径12mmの塩ビ網入り配管,6m |
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| 最大感度(RMS at 1 Hz) | 10 nm | 1.0 × 103 (dN/dlogDp/cc) |
| 30 nm | 4.0 × 102 | |
| 100 nm | 1.7 × 102 | |
| 300 nm | 8.0 × 101 | |
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代表的なディーゼルの |
粒子数:約170N/cc マス粒子:約0.5µg/m3 ※ ログノーマルモードでの検出限界レベル |
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アクセサリ
デュアルサンプリングアクセサリ(DSA)本DSAは2本の加熱サンプルラインとプライマリダイリューションの増設により、DMS500が吸引する2ヶ所のサンプリングポイントを外部制御で切り換え可能にします。強化されたDMS500のソフトウェアで希釈比の同時制御を行い、最小限の費用でDPFの性能評価をする理想的な方法です。 |
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関連製品
FAQ
・背圧の高いエキゾーストマニホールドからサンプルできますか?
レリーフ弁を使って圧力影響を受けないように対策する必要があります。オプション部品として提供します。
・データの収録中にダイリューションレシオの変更ができますか?
勿論できますしデータファイルに記録されますが、変更中(数秒間)は希釈率の信頼性が低くなります。
| DMS500はコロナ放電を利用し、各粒子の表面積に比例した荷電を行います。荷電した粒子はその後、強電場の分級カラムへと流れていきます。この電場では、荷電粒子がシース流を横切り、検出器であるエレクトロメータに引き寄せられます。これらの粒子は、それぞれ空力的な引き力と荷電の比に依存し、カラムの異なった距離のところで検出されます。 22個のエレクトロメータ出力は、粒度分布やその他必要なパラメータとなるようリアルタイムで処理されます。特許である本装置固有のスペースチャージガードは、複雑な補正用のソフトウェアを必要とせず、イメージチャージ現象(カラムの上部で多荷電粒子が横切ることで起こる)を防止します。 DMS500のカラム内部を減圧し、臨界オリフィスを通してサンプルすることで粒子塊を作ることなく、本機のワイドレンジを実現しています。またこの減圧によって応答性が向上すると共に、サンプルポイントの圧力変動影響を受けることもなくなります。 |
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